電子產(chǎn)品跌落測試(試驗)標(biāo)準(zhǔn)是什么

跌落試驗標(biāo)準(zhǔn)的參考方法主要是來源包裝和運輸包裝的基本試驗標(biāo)準(zhǔn)。電子產(chǎn)品的跌落試驗是在電子產(chǎn)品包裝后模擬不同的邊緣，角，當(dāng)表面和不同高度墜落在地面時，了解產(chǎn)品損壞情況，評估產(chǎn)品包裝組件墜落時能承受的墮落高度和抗沖擊強度，根據(jù)產(chǎn)品實際情況和國家標(biāo)準(zhǔn)范圍進行改進，完善包裝設(shè)計，80%的電子產(chǎn)品損壞大多來自墜落碰撞。研發(fā)人員經(jīng)?；ㄙM大量的時間和成本對產(chǎn)品進行相關(guān)的質(zhì)量測試，最常見的是墜落測試。

跌落測試方法：

墜落高度主要以產(chǎn)品重量和可能的墜落概率為參考標(biāo)準(zhǔn)，墜落表面應(yīng)為混凝土或鋼制的光滑，剛性表面堅硬(如有特殊要求，應(yīng)由產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范決定)。

對于不同的國際規(guī)范，即使產(chǎn)品重量相同，也會有不同的下降高度。對于手持產(chǎn)品(如手機，MP3等)大部分掉落高度大多介于100cm~150cm不等，IEC對于≦2kg手持產(chǎn)品建議1000cm墜落高度不能損壞，MIL建議墜落高度為1222cm，Intel對于手持產(chǎn)品(如手機)，建議降低高度為1500cm。測試的嚴(yán)格程度取決于跌落高度.跌落次數(shù).跌落方向。對于跌落實驗國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式是一角，三邊，六面自由落體，跌落高度取決于產(chǎn)品重量。分為2250px.1900px.1625px幾個等級。

1.自由跌落

目的：確定產(chǎn)品在搬運過程中因粗裝卸而墜落的適應(yīng)性，或確定安全要求*低牢固度。本試驗主要用于非包裝試驗樣品，其包裝可作為運輸箱試驗樣品的一部分。

2.重復(fù)自由跌落

目的：確定連接器、小型遙控裝置等可能頻繁跌落到硬表面的元件裝置，以承受反復(fù)跌落的適應(yīng)性。

跌落試驗標(biāo)準(zhǔn):

GB/T4857.1-2019包裝運輸包裝件基本試驗第一部分：試驗時各部位的標(biāo)注方法；

GB/T4857.2-2005包裝運輸包裝件基本試驗第二部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理；

GB/T4857.5-1992包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法；

GB/T4857.17-2017包裝運輸包裝件基本試驗第17部分：編制性能試驗大綱一般規(guī)則；

跌落測試的目的：

用于模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運過程中可能自由墜落，檢查產(chǎn)品的抗意外沖擊能力，即評估貨物外包裝運輸過程中的抗墜落能力。該實驗通常用于墜落試驗機。

跌落試驗原理：

當(dāng)包裝箱，包裝帶輪，當(dāng)產(chǎn)品從某個高度下降并與下降區(qū)域的地面接觸時，會受到很大的沖量，從而導(dǎo)致包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品在包裝箱中產(chǎn)生瞬態(tài)振動和一定位移，包裝帶輪，產(chǎn)品產(chǎn)生較大的應(yīng)力和應(yīng)變，抗跌落能力弱的包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品會因跌落而損壞或性能下降。試驗結(jié)束后，包裝箱，包裝帶輪，檢測產(chǎn)品外觀可判斷包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品抗跌落能力強弱。