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插件晶振與貼片晶振測(cè)試介紹
插件晶振與貼片晶振測(cè)試介紹
石英晶體振蕩器(以下簡(jiǎn)稱晶振)是利用石英晶體壓電效應(yīng)而制成的器件,它的作用是輸出高精度和高穩(wěn)定度的脈沖信號(hào),為整個(gè)電路提供時(shí)序基準(zhǔn)。我們知道,現(xiàn)在電路中有越來越多的時(shí)序電路,它們之間的協(xié)同運(yùn)行必須要有一個(gè)時(shí)間基準(zhǔn),才能統(tǒng)一一致的行動(dòng),就像電視劇里特種行動(dòng)小隊(duì)在出發(fā)前都要對(duì)下表一樣,晶振在系統(tǒng)中起的作用就如同隊(duì)長(zhǎng)的手表,它如果穩(wěn)定性或準(zhǔn)確性不好的話,那整個(gè)系統(tǒng)就會(huì)錯(cuò)誤頻出,故障率很高。所以又把晶振稱為單板的“心臟”。
石英晶體振蕩器是由品質(zhì)因數(shù)Q極高的石英晶體諧振器和振蕩電路組成。晶體的品質(zhì)因數(shù)、切割取向、晶體振子的結(jié)構(gòu)及電路形式等,共同決定振蕩器的性能。國際電工委員會(huì)(IEC)將石英晶體振蕩器分為4類:普通晶體振蕩(SPXO),電壓控制式晶體振蕩(VCXO),溫度補(bǔ)償式晶體振蕩(TCXO),恒溫控制式晶體振蕩(OCXO)。目前發(fā)展中的還有數(shù)字補(bǔ)償式晶體振蕩(DCXO)以及混合式的VOCXO振蕩等。
雖然因?yàn)槭⒕w的Q值很高,晶振輸出的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性都很高,但由于晶振內(nèi)部元器件參數(shù)隨著運(yùn)行時(shí)間發(fā)生飄逸,電源、負(fù)載和溫度等參數(shù)變化等原因,其輸出并不是恒定不變的。任何晶振,頻率不穩(wěn)定是絕對(duì)的,只是程度不同而已。一個(gè)晶振的輸出頻率隨時(shí)間變化的曲線如下圖所示。下圖中表現(xiàn)出頻率不穩(wěn)定的三種因素:老化、飄移和短穩(wěn)。其中短穩(wěn)性能會(huì)影響到接收機(jī)的接收靈敏度和選擇性、會(huì)影響高速率數(shù)字通信系統(tǒng)、會(huì)影響測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試靈敏度等等,對(duì)高速信號(hào)的質(zhì)量起著決定性的作用。短穩(wěn)指標(biāo)的時(shí)頻表現(xiàn)就是人們常說的眼圖。老化和飄移是對(duì)晶振長(zhǎng)期穩(wěn)定指標(biāo)的描述,它表征晶振運(yùn)行一段時(shí)間(經(jīng)常是日、月、年等)后,輸出頻率的變化程度。
綜上,晶振的頻率測(cè)試,需要長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)量并記錄,測(cè)試過程中又經(jīng)常需要更換溫度、電壓、負(fù)載等條件,如果純手工操作,需要大量的人力,成本極高,不具備可操作性。北測(cè)檢測(cè)為此需求專門開發(fā)了全套的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。本系統(tǒng)使用銣鐘做為基準(zhǔn),提升整套系統(tǒng)的測(cè)試精確度,使用軟件控制可編程電源、頻率計(jì)和溫箱,可實(shí)現(xiàn)在滿足條件后自動(dòng)記錄數(shù)據(jù),以及多路輸出同時(shí)控制并記錄,大大節(jié)省了人力成本。
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