IP防護(hù)等級(jí)試具模塊制造商根據(jù)所用存儲(chǔ)器芯片的特性將SPD中的定時(shí)信息寫(xiě)入EEPROM并寫(xiě)入EEPROM。主要目的是協(xié)助北橋芯片精確調(diào)整存儲(chǔ)器的物理/時(shí)序參數(shù)，以達(dá)到佳使用效果。如果BIOS設(shè)置選項(xiàng)在BIOS中設(shè)置為“By SPD”。然后，在通電時(shí)，北橋?qū)⒏鶕?jù)SPD中的參數(shù)信息自動(dòng)配置相應(yīng)的存儲(chǔ)器定時(shí)和控制寄存器，以避免由校準(zhǔn)錯(cuò)誤引起的人為錯(cuò)誤。當(dāng)然，對(duì)于DIYer，定時(shí)和控制參數(shù)也可以自由調(diào)整（物理參數(shù)仍然由SPD或北橋自測(cè)確定）。、

自動(dòng)化測(cè)試治具從自動(dòng)化程序上分：1、手動(dòng)測(cè)試，一般為夾鎖治具，直接用探針把輸入輸出引出來(lái);2、半自動(dòng)測(cè)試，一般為氣動(dòng)及MCU，可以設(shè)備自身做一些探制及量測(cè)3、全自動(dòng)測(cè)試，在測(cè)試過(guò)程中不要任何人工參與的功能測(cè)試。

IP防護(hù)等級(jí)試具中的test mode是為了更方便的測(cè)試芯片，畢竟datasheet里面定義的普通功能很少，用來(lái)測(cè)試芯片有很大的局限性，效率也比較低。 test mode屬于密資料，不會(huì)開(kāi)放給用戶看的，里面涉及到的一些command和spec 都是只有公司內(nèi)部有關(guān)的人才可以看。test mode會(huì)測(cè)各個(gè)電路模塊的功能是否正常，某個(gè)signal在工作中的電壓是否滿足spec， design的bug 很多是在這個(gè)時(shí)候抓到的。

在ATE，更復(fù)雜、更密集的電路，以及與系統(tǒng)內(nèi)部或外部的其他設(shè)備，包括與系統(tǒng)前后部分的交互，需要同時(shí)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試。 雖然這看起來(lái)像是一個(gè)工廠測(cè)試問(wèn)題，但它也是一個(gè)面向測(cè)試的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。 如果一個(gè)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)沒(méi)有預(yù)先做到這一點(diǎn)，生產(chǎn)階段測(cè)試可能會(huì)出錯(cuò)，導(dǎo)致低產(chǎn)量，性能差的芯片，更糟糕的是，芯片壽命太短會(huì)帶來(lái)嚴(yán)重影響。利用ATE測(cè)試座就是一個(gè)很好的ATE測(cè)試方案。 召回汽車(chē)的成本遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于在車(chē)輛出廠前解決問(wèn)題的成本。